Структура за темами

  • Про освітній курс

    Згорнути все Розгорнути всі

    Рівень вищої освіти

    Другий (магістерський)

    Галузь знань

    13 Механічна інженерія

    Спеціальність

    132 Матеріалознавство

    Освітня програма

    Матеріалознавство

    Статус дисципліни

    вибіркова

    Форма навчання

    очна (денна)

    Рік підготовки, семестр

    2 або 3 семестр

    Обсяг дисципліни

    5 кредитів (150 годин)

    Семестровий контроль/ контрольні заходи

    диференційований залік

    Розклад занять

    лекція – 2 год в тиждень (30 год); практика/семінар/лабораторні – 1 год в тиждень (15 годин); самостійна робота – 105 год, диференційований залік

    Мова викладання

    Українська

    Інформація про
    керівника курсу / викладачів

    Микола Іванович Сліпченко

    Кафедра прикладної фізики та матеріалознавства (Інститут сцинтиляційних матеріалів НАН України).

     


    Лектор: докт. фіз.-мат. наук, Сліпченко Микола Іванович, naukovets.big@gmail.com

    Семінарські заняття: докт. фіз.-мат. наук, Сліпченко Микола Іванович, naukovets.big@gmail.com

    Платформа для онлайн підключення:

    Zoom


  • Тема 1. Методи мікроскопії

    ·         Оптична мікроскопія (флуоресцентна, конфокальна, двофотонна)
    ·         Електронна мікроскопія
    o   Скануюча електронна мікроскопія (SEM), дифрактометрія зворотного розсіювання електронів (EBSD), сфокусований іонний промінь (IFB)
    o   Трансмісійна електронна мікроскопія (TEM)
    o   Скануюча тунельна мікроскопія (STM)
    ·         Атомно-силова мікроскопія (AFM)
    ·         Рентгенівська мікроскопія

    ·         Ультрафіолетова мікроскопія


  • Тема 2. Спектроскопічні методи

    • Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (XPS)
    • Рентгеноструктурний аналіз (XRD)
    • Інфрачервона спектроскопія (FTIR), Нанорозмірна інфрачервона спектроскопія (AFM-IR)
    • Раманівська спектроскопя
    • Спектроскопія ядерного магнітного резонансу
    • Енергодисперсійна спектроскопія (EDS)
    • Оже-електронна спектроскопія
    • Спектроскопія втрат енергії електронів на відбиття (REELS)
    • Спектроскопія ультрафіолетового-видимого ближнього ІЧ-діапазону (UV-VIS)

    • Мас-спектрометрія вторинних іонів за часом прольоту (ToF-SIMS)

  • Tema 3. Інші методи

    • Змочування: Контактний кут
    • Щільність: Гелієва пікнометрія
    • Пористість: Ртутна порозиметрія
    • Твердість: Наноідентування
    • Хімічний склад: Електронно-зондовий мікроаналіз (EPMA)
    • Топографія поверхні: Оптична профілометрія
    • Межа текучості, межу міцності
    • Коефіцієнт Пуассона
    • Коефіцієнт теплового розширення (КТР)

    • Zeta-потенціал

  • Тема 4. Електричні характеристики

  • Тема 5. Термічний аналіз

    • Термогравіметричний аналіз (TGA) 
    • Диференціальна скануюча калориметрія (DSC) 

    • Аналіз виділених газів (EGA)