• 3. Спектроскопічні методи


    • Spectroscopic Techniques: Класифікація спектроскопій за типами збуджень та детектування.
    • Scanning tunneling spectroscopy (STS)
    • Field-emission microscopy (FEM) and Field ion microscope (FIM). 
    • Subatomic microscopies: Ultrahigh resolution field-emission electron microscopy. Velocity map imaging spectrometer (VMI)
    • Scanning electron microscope (SEM)
    • Thermal desorption spectroscopy (TDS) or Temperature programmed desorption (TPD). Arrhenius equation. Ступені вакууму
    • Mass spectrometry. Quadrupole mass spectrometer (QMS)
    • Rutherford backscattering spectrometry (RBS) and Secondary-ion mass spectrometry (SIMS)
    • Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf: 
      Ion Beam Center, 
      Electron Linac for beams with high Brilliance and low Emittance (ELBE), 
      Dresden High Magnetic Field Laboratory.
    • Low Energy Electron Difraction (LEED). Reflection High Energy Electron Diffraction (RHEED).
    • Photoelectron spectroscopy. Electronic band structure. ARPES intro.


    Контрольні питання

    1. Приклади методів, що використовують пружне/непружне розсіювання фотонів/електронів?
    2. Чому роздільна здатність іонного польового мікроскопа більше ніж електронного емісійного?
    3. Чому роздільна здатність електронного мікроскопа більше ніж оптичного? 
    4. В чому різниця між TEM та SEM?
    5. Чим RHEED кращий за LEED?
    6. Як відрізнити поверхневі та об'ємні зони на ARPES-спектрах?


2. Матеріали в магнітних та електричних полях4. Фотоемісійна спектроскопія з кутовим розділенням (ARPES)