• Загальне

    Курс складається із стислого огляду-класифікації сучасних методів дослідження матеріалів під впливом зовнішніх чинників: температури, тиску, механічного навантаження, магнітних та електричних полів та різних видів опромінення – різноманітні спектроскопічні методи. Більш детально, на прикладах європейських експериментальних інфраструктур, розглянуто способи реалізації високих магнітних полів та їх застосування, синхротронні експерименти та метод фотоелектронної спектроскопії, дифракційні методи та методи тунельної електронної спектроскопії.

  • 3. Спектроскопічні методи


    • Spectroscopic Techniques: Класифікація спектроскопій за типами збуджень та детектування.
    • Scanning tunneling spectroscopy (STS)
    • Field-emission microscopy (FEM) and Field ion microscope (FIM). 
    • Subatomic microscopies: Ultrahigh resolution field-emission electron microscopy. Velocity map imaging spectrometer (VMI)
    • Scanning electron microscope (SEM)
    • Thermal desorption spectroscopy (TDS) or Temperature programmed desorption (TPD). Arrhenius equation. Ступені вакууму
    • Mass spectrometry. Quadrupole mass spectrometer (QMS)
    • Rutherford backscattering spectrometry (RBS) and Secondary-ion mass spectrometry (SIMS)
    • Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf: 
      Ion Beam Center, 
      Electron Linac for beams with high Brilliance and low Emittance (ELBE), 
      Dresden High Magnetic Field Laboratory.
    • Low Energy Electron Difraction (LEED). Reflection High Energy Electron Diffraction (RHEED).
    • Photoelectron spectroscopy. Electronic band structure. ARPES intro.


    Контрольні питання

    1. Приклади методів, що використовують пружне/непружне розсіювання фотонів/електронів?
    2. Чому роздільна здатність іонного польового мікроскопа більше ніж електронного емісійного?
    3. Чому роздільна здатність електронного мікроскопа більше ніж оптичного? 
    4. В чому різниця між TEM та SEM?
    5. Чим RHEED кращий за LEED?
    6. Як відрізнити поверхневі та об'ємні зони на ARPES-спектрах?


2. Матеріали в магнітних та електричних полях4. Фотоемісійна спектроскопія з кутовим розділенням (ARPES)