• Загальне

    Курс складається із стислого огляду-класифікації сучасних методів дослідження матеріалів під впливом зовнішніх чинників: температури, тиску, механічного навантаження, магнітних та електричних полів та різних видів опромінення – різноманітні спектроскопічні методи. Більш детально, на прикладах європейських експериментальних інфраструктур, розглянуто способи реалізації високих магнітних полів та їх застосування, синхротронні експерименти та метод фотоелектронної спектроскопії, дифракційні методи та методи тунельної електронної спектроскопії.

  • X. Метод кінетичного індентування

    Лектор: Олександр Філатов

    • Поняття про твердість. Рівні індентування, мікро- та наноіндентування. Форма інденторів. Зв`язок між твердістю та межею текучості.
    • Кінетичне індентування. Блок - схема приладу для кінетичного індентування. Геометрія відбитку. Розрахунок мікротвердості. Вплив глибини індентування на нанотвердість. Можливі причини впливу глибини на нанотвердість. Роль дефектів в динамічному індентуванні.
    • Види діаграм навантаження – розвантаження. Прилад УПМ-11, його параметри. Параметри діаграми. Вплив деформації на механічні властивості.
    • Опрацювання результатів експерименту.

X. Фізичні явища у високих магнітних полях