Структура за темами

  • Курс складається із стислого огляду-класифікації сучасних методів дослідження матеріалів під впливом зовнішніх чинників: температури, тиску, механічного навантаження, магнітних та електричних полів та різних видів опромінення – різноманітні спектроскопічні методи. Більш детально, на прикладах європейських експериментальних інфраструктур, розглянуто способи реалізації високих магнітних полів та їх застосування, синхротронні експерименти та метод фотоелектронної спектроскопії, дифракційні методи та методи тунельної електронної спектроскопії.


  • Лектор: Володимир Карбівський

    • Основи теорії процесу розсіювання. "Золоте" правило Фермі. Матричний елемент переходу для тунельного переходу.
    • Принцип дії тунельного мікроскопа. Метод постійного струму. Метод постійної висоти. Відображення роботи виходу. Знаходження щільності електронних станів.
    • Скануюча тунельна спектроскопія. I(z) - спектроскопія. I(v) - спектроскопія. 
    • Граничні режими та технічні деталі. Отримання інформації про тунелювання одного електрона. Отримання вістря і вимоги до нього. Приклади тунельних спектрів і знімків СТМ.