• 4. Скануюча тунельна мікроскопія та спектроскопія

    Лектор: Володимир Карбівський

    • Основи теорії процесу розсіювання. "Золоте" правило Фермі. Матричний елемент переходу для тунельного переходу.
    • Принцип дії тунельного мікроскопа. Метод постійного струму. Метод постійної висоти. Відображення роботи виходу. Знаходження щільності електронних станів.
    • Скануюча тунельна спектроскопія. I(z) - спектроскопія. I(v) - спектроскопія. 
    • Граничні режими та технічні деталі. Отримання інформації про тунелювання одного електрона. Отримання вістря і вимоги до нього. Приклади тунельних спектрів і знімків СТМ.

3. Метод кінетичного індентування5. Спектроскопічні методи